ГОСТ 26239.5-84
Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей
На этой странице вы можете ознакомиться с информацией о стандарте, а также скачать ГОСТ 26239.5-84 бесплатно.
Информация о ГОСТ 26239.5-84 | |
---|---|
Обозначение | ГОСТ 26239.5-84 |
Статус | действующий |
Название рус. | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей |
Название англ. | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination |
Дата актуализации текста | 19.01.2010 |
Дата актуализации описания | 19.01.2010 |
Дата введения в действие | 01.01.1986 |
Дата издания | 21.01.1985 |
Дата последнего изменения | 23.06.2009 |
Область и условия применения | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
Список изменений | № 1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен» |
Также входит в разделы | ОКС - Общероссийский классификатор стандартов / Электротехника / Полупроводниковые материалы |
Прямая ссылка на эту страницу:
http://metall4all.ru/gost/gost-26239-5-84/
Другие стандарты:
ГОСТ 26239.6-84, ГОСТ 26239.7-84, ГОСТ 26239.8-84, ГОСТ 26239.9-84, ГОСТ 26294-84, ГОСТ 26388-84, ГОСТ 26389-84, ГОСТ 26446-85, ГОСТ 26473.0-85, ГОСТ 26473.10-85
Поиск по названию:
ГОСТ 26239.6-84, ГОСТ 26239.7-84, ГОСТ 26239.8-84, ГОСТ 26239.9-84, ГОСТ 26294-84, ГОСТ 26388-84, ГОСТ 26389-84, ГОСТ 26446-85, ГОСТ 26473.0-85, ГОСТ 26473.10-85
Поиск по названию: